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霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)

型號(hào)：HET系列
應(yīng)用領(lǐng)域：
材料物理創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)教學(xué)備霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) HET 是依據(jù)范德堡法測(cè)量材料的電運(yùn)輸性能參數(shù)：載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等，薄膜或薄層材料均可測(cè)量. 可應(yīng)用于所有半導(dǎo)體材料，包括 Si、ZnO、SiGe、SiC， GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可測(cè)量）, 廣泛應(yīng) 用于國(guó)內(nèi)高校、研究所、半導(dǎo)體、金屬、高熱導(dǎo)有機(jī)新材料 等行業(yè)。
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