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熱電參數(shù)測試系統(tǒng)

型號：Namicro-3
應(yīng)用領(lǐng)域：
熱電參數(shù)測試系統(tǒng) Namicro 采用準(zhǔn)動態(tài)法和四探針法分 別測量樣品的Seebeck 系數(shù)和電阻率。主要是用于測試塊體 熱電材料，包括康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、 CuGaTe2、GeTe、CuS、Cu2ZnSnSe4等半導(dǎo)體及化合物，以及PANI、PEDOT等高分子聚合物。
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